ISBN/价格: | 7-5053-9368-5:CNY35.00 |
作品语种: | chi eng |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 嵌入式软件测试/.(美)Bart Broekman, (美)Edwin Notenboom著/.张君施, 张思宇, 周承平译 |
出版发行项: | 北京:,电子工业出版社:,2004 |
载体形态项: | 10, 312页:;+图:;+23cm |
一般附注: | 并列题名:Testing embedded software |
提要文摘: | 本书全面讲述了嵌入式软件测试的一般过程, 内容包括结构化测试和嵌入式系统的原理、测试生命周期、重要的应用技术、基础设施、测试组织形式和测试原则。 |
并列题名: | Testing embedded software eng |
题名主题: | 软件开发 |
中图分类: | TP311.52 |
个人名称等同: | Broekman Bart 著 |
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个人名称等同: | Notenboom Edwin 著 |
个人名称次要: | 张君施 译 |
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个人名称次要: | 张思宇 译 |
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个人名称次要: | 周承平 译 |
记录来源: | CN RENTIAN 20040131 |
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记录来源: | CN HUNN 20041026 |
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